影響覆層測厚儀測量值的因素及解決方法

影響覆層測厚儀測量值的因素及解決方法

        使用測厚儀與使用其他儀器相同。有必要掌握儀器的性能，了解測試條件。采用磁原理和渦流原理的涂層測厚儀都是根據被測基材的電學和磁學特性以及與探頭的距離來測量涂層的厚度。因此，被測基板的電磁物理特性和物理尺寸都會受到影響。磁通量和渦流的大小。這會影響測量值的可靠性。
         1.邊界間距
        如果探頭與被測物體邊界、孔、腔等截面的距離變化小于規定的邊界間距，由于磁通量不足或渦流載體截面會導致測量誤差。如果此時需要測量涂層厚度，只能在相同條件的未涂層表面上進行預校準來測量。 （注：新產品具有*的通過包層校準功能，可以達到3-10%的精度）
         2.基板表面的曲率
        在一個平面對比樣品上校準一個初始值，然后測量在包層厚度之后減去這個初始值。或者參考下一篇文章。
         3、母材厚度小
        基底金屬必須具有給定的小厚度，以便探頭的電磁場可以*包含在基底金屬中。厚度小與測量儀器的性能和金屬基體的性能有關。可以在不校正測量值的情況下執行測量。對于基板厚度不足的影響，可以采取措施在基板下封閉一塊相同的材料來消除它。如果難以確定，或者不能添加基材，可以通過與已知涂層厚度的樣品進行比較來確定與額定值的差異。并在測量時考慮到這一點，對測量值進行相應的修正或參照第2條。對于那些可以校準的儀器，通過調節旋鈕或按鍵可以得到準確的直讀厚度值。
        反之，利用厚度過小的影響，可以開發測厚儀直接測量銅箔的厚度，如前所述。
         4、表面粗糙度和表面清潔度
        為了在粗糙表面上獲得具有代表性的平均測量值，必須進行多次測量。顯然，基材或涂層越粗糙，測量的可靠性就越低。為了獲得可靠的數據，基材的平均粗糙度 Ra 應小于涂層厚度的 5%。對于表面雜質，應去除。有些儀器有上限和下限，以消除那些“飛點"。
         5、探頭測板的力度
        測量探頭的力應該是恒定的。并且應該盡可能小。以免造成軟涂層變形，使測量值下降。如果活性波動較大，必要時可在兩者之間放置一定厚度的堅硬、不導電、剛性的薄膜。因此，可以通過減去膜厚適當地獲得剩磁。
         6、外部恒定磁場、電磁場和矩陣剩磁
        測量時應避免靠近具有干擾作用的外部磁場。殘磁可能會根據探測器的性能或多或少造成測量誤差，但這種現象在結構鋼、深沖鋼板等中一般不會發生。
         7、涂層材料中的鐵磁和導電成分
        涂層中某些鐵磁成分的存在，例如某些顏料，會影響測量值。在這種情況下，參考樣品的涂層應與被測物的涂層具有相同的電磁性能，并應在校準后使用。采用的方法可以是在鋁板或銅板樣品上涂上相同的涂層，用渦流法檢測后得到對比標準